Оптические покрытия - анализ, синтез, общение специалистов
Расчет оптических покрытий. Анализ спектральных характеристик покрытий
Главная
Услуги
Анализ оптических покрытий
Синтез оптических покрытий. Методы расчета конструкций
Рекомендованные материалы по оптике многослойных покрытий, и другое
Полезная литература. Учебники, монографии и научные статьи
Форум. Общение специалистов по оптике многослойных покрытий


  


Rambler's Top100


|

Метод характеристических матриц

Решения и начальные условия систем (2.6, 2.8) можно представить двумерным вектором

.                                                                   (2.18)

Причём в силу линейности систем (2.6, 2.8) справедливо выражение

.                                             (2.19)

Поскольку в силу закона сохранения энергии определитель матрицы N равен единице, столь же справедливо будет и обратное выражение:

.                                   (2.20)

Матрицу M называют характеристической матрицей слоистой среды [21, 22]. Она связывает величину электромагнитного поля на передней границе системы с его величиной в любой точке внутри слоистой среды.

Простая линейная зависимость между электромагнитными полями на границах слоистой среды позволяет[21] найти амплитудные коэффициенты отражения и пропускания для системы, характеризующейся матрицей М:

                                             (2.21)

Как было указано выше, в качестве граничных условий удобно выбрать условия на верхней границе системы (z=h). Поскольку при z>=h свет распространяется как плоская волна, можно положить

                                                                                      (2.28)

Это соотношение позволяет рассчитать распределение амплитуды напряженности электрического и магнитного полей во всем многослойном покрытии. Для этого достаточно вычислить матрицу M как функцию координаты z и рассчитать соответствующие значения поля по формулам (2.18, 2.20).

Из всего вышесказанного следует, что решение задачи распространения плоской волны в слоистой среде сводится к нахождению соответствующей характеристической матрицы.

Для однородной плёнки (см. рис.2.3) система (2.6) является системой однородных уравнений, и ее общее решение имеет следующий вид:

                               (2.22)

Неизвестные коэффициенты A,B,C,D, используя соотношения (2.6), легко выразить через значения поля на передней границе системы:

.                                             (2.24)

Это позволяет записать общее решение системы (2.6) в виде:

.         (2.25)

Таким образом, получим следующие выражения для матриц N и M:

,                   (2.26)

где

                (2.27)

Рис. 2.3. Однородная плёнка

Рис. 2.4. Многослойная плёнка

Теперь рассмотрим систему, состоящую из двух слоев (см. рис. 2.4). Несложно рассчитать  характеристическую матрицу каждого слоя Mi(hi). Тогда будут справедливы следующие выражения:

.                                                     (2.29)

Подставив значение Q(z1) из второго уравнения в первое, мы по определению получим выражение для характеристической матрицы системы :

.                                                            (2.30)

Этот подход можно очевидным образом обобщить на сколь угодно большое конечное количество слоев. Таким образом, общую формулу для характеристической матрицы многослойной системы, состоящей из N слоев, можно записать в виде:

,                                         (2.31)

где h1,h2,...,hN - толщины слоёв.

| | | | |